设备名称：    JEOL JEM-F200透射电镜                                     型号：JEM-F200

设备厂商：    JEOL                                                                   安放地点：科技楼110

联系人：       郭薇                                                                    联系电话：15127917570

E-Mail地址：b2621140@ustb.edu.cn

性能参数：

      四级聚光镜系统：能最大程度发挥出STEM功能

      空间分辨率：TEM模式0.19 nm；STEM模式0.16nm

      SpecPorter系统：可自动插装样品

      放大倍率：50X-200000X

      能量分辨率：0.3eV

功能用途：

采用四级聚光镜设计，分别控制亮度和汇聚角;安装有两个100平方毫米无窗探头及双能谱混合器，可广泛应用于金属、矿物、半导体、陶瓷、等物质的纳米尺度微分析。